Current Mainstay 工程別の装置シェアと競争構造
このページは、半導体製造装置の市場を 工程ごとの市場規模、トップシェア、主要企業の製品カテゴリ で整理するページです。
数値はMETI図の2021年シェアをベースにし、会社説明・工程対応ライン・引用元はグラフのデータ台帳にまとめています。
Interactive METI Figure
図と横の説明で、市場の大きさと競争構造を同時に整理する
METI図の列構造を保ちつつ、列幅は読みやすさ優先で圧縮しています。ブロックを押すと右側の説明が切り替わり、市場規模、首位企業、掲載プレイヤーを同じ画面で追えます。
2. 半導体・デジタル産業を取り巻く状況 / 各分野の動向 / 半導体分野
半導体製造装置の世界市場
日本企業が大きなシェアを持つ装置がある一方、半導体製造装置市場全体では、市場規模が大きい装置を米蘭勢が占めます。
単位: 億円(2021年)。括弧内は企業シェア。出典: 経済産業省資料をもとに再構成。
ベンダー別の製品ラインを確認する
Section titled “ベンダー別の製品ラインを確認する”グラフで関心のある会社は、下のビューで製品ファミリーと製品ページを確認できます。
公式ページへ移る前に、どの工程カテゴリにどの製品が入るかを整理する用途を想定しています。
Vendor Deep Dive
主要5社の主力機と最新機を工程別に整理する
ここは `図1の全カテゴリ俯瞰` の次に参照したい詳細ビューです。市場規模が大きく、実機ラインまで追跡する価値 が高い主要5社について、`強い棚` と `現在の主力ライン / 最新・注目機` をまとめています。
TEL
METI 図では、TEL は露光機そのものよりも、その前後にあるトラック、拡散炉、バッチ成膜、エッチ周辺で非常に強いです。
図1で強い場所
AMAT
METI 図では、AMAT は CVD、スパッタ、CMP、イオン注入など、材料工学の差がシェアへ直結しやすい装置群で厚いです。
図1で強い場所
Current Mainstay
現在の主力ライン
Lam
METI 図では Lam はエッチの比重が最も大きく、成膜や洗浄も持っています。先端ロジックと 3D NAND の難所で使われる工程棚が厚い会社です。
図1で強い場所
Current Mainstay
現在の主力ライン
Current Mainstay KLA
METI 図では KLA は検査・計測・制御の中心です。工程ばらつきの発生位置を特定し、補正条件へ戻す役割が大きい会社です。
図1で強い場所
Current Mainstay
現在の主力ライン
Latest
最新・注目機
Latest KLA
IC metrology systems launch
新しい IC metrology systems の公式発表です。KLA の最新製品投入の傾向を把握する材料として使えます。
公式発表へASML
METI 図で最も分かりやすいのが露光です。露光装置そのものでは ASML が圧倒的で、さらに YieldStar でオーバーレイ計測にも顔を出します。
図1で強い場所
Current Mainstay
現在の主力ライン
Latest
最新・注目機
Latest 会社別の製品ファミリーを装置ファミリー単位で一覧したい場合は、ベンダー別の装置カタログ総覧 に進むと、工程別の総覧マトリクスと公式リンクを同じ画面で確認できます。
検査・計測・オーバーレイだけを会社別に切り分けたい場合は、KLA・ASML・AMAT・SCREENの検査・計測・オーバーレイ装置比較 に進むと、測定対象と戻し先を会社ごとに固定できます。
市場規模の次に 測る値 / 戻す工程条件 / 代表ページ を工程別に並べる場合は、検査・計測・オーバーレイ装置の役割分担 に進むと、process control の戻し先を 4 つの stage で確認できます。
また、先端ノードの量産条件は装置シェアだけでは読み切れず、front-back alignment / overlay metrology を量産許容値内へ収められるか が実装側の大きな論点になります。
その要点は Backside alignment / overlay metrology の要点整理 に分けて整理しています。
References
Section titled “References”- 経済産業省, 半導体・デジタル産業戦略(PDF): https://www.meti.go.jp/press/2023/06/20230606003/20230606003-1.pdf
- 各社製品ページ・発表資料: グラフ右側の会社説明パネルに、対象会社ごとの引用元として格納しています。